The Canadian Mineralogist
Examens XRD et microscopie électronique des silicates en couches
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Études XRD et microscopie électronique des silicates en couches – Le minéralogiste canadien Vol. 36, partie 6
Éditeurs : RF Martin
Une démonstration de la puissance d'une approche combinée XRD-TEM dans l'étude des silicates en couches.
Couverture souple. 242 pages. 1998.
| ISBN : | 0008-4476 |
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